熱電阻校驗裝置

 KCRG-30型熱電阻校驗裝置

一、實驗目的：

可標定熱電阻及低溫熱電偶。

二、主要配置：

 配用半導體制冷，試驗管內制冷溫度最低可達-20℃；加熱溫度最高可達+200℃。高精度PID溫度調節(jié)控溫，電阻器。配有萬能信號輸入巡檢儀作為被校熱電阻的信號采集，也可以作為銅——康銅熱電偶的校正信號采集，可配套不銹鋼實驗臺。

三、技術參數：

1、輸入電源：單相AC220V±10% 50Hz，功率1.0KW。

2、采用半導體制冷，試驗管內制冷溫度最低可達到從實時溫度低3 4℃加熱溫度最可達+120℃。實驗管制冷、加熱工作電源由低壓大功率開關電源供電。

3、溫度測量：測量系統(tǒng)配置有智能溫度控制儀表（PID調節(jié)控溫，精度 ±0.2℃），高精度PID調壓模塊電路。

4、外形尺寸：1000×500×1200mm，外形為不銹鋼可移動支架，帶雙剎車輪。